吸附分析儀器

  XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于環境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用，也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術，可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析，也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用。

產品特點

1. 外部感知技術，把敏感元件置于天平室外部，允許腐蝕性和易燃氣體的操作

2. 幾何對稱、精密設計的微量天平

3. 內部容積小化

4. 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和長期穩定性±5μg

5. 寬動態稱量范圍（0-200毫克）

6. 操作壓力高達200bar

7. 單獨的反應器可進行從77 K到773 K的全溫度范圍測量

8. 無需重新歸零或原位校準

9. 采用IGA*的終點預測方法

10. 全金屬結構由高品質的VCR裝配

11. 模塊化設計，與所有配件兼容且可升級